Ви переглядаєте архівну версію офіційного сайту НУЛП (2005-2020р.р.). Актуальна версія: https://lpnu.ua

Прилади на основі МОН структур в мікро- і наноелектроніці

Major: Мікро- та наносистемна техніка
Code of Subject: 8.153.00.O.11
Credits: 3
Department: Напівпровідникова електроніка
Lecturer: д.т.н., проф. Дружинін А.О.
Semester: 3 семестр
Mode of Study: денна
Learning outcomes:
У результаті вивчення модуля студент повинен знати:
- принцип дiї, властивостi, основнi характеристики i параметри напiвпровiдникових приладiв на основi структур метал-окис-напiвпровiдник i елементiв iнтегральних мiкросхем;
- шляхи розвитку i сучасні проблеми в мікро- і наноелектроніці.
Підготовлений фахівець повинен вміти:
- проводити математичний аналіз роботи напівпровідникових приладів в мікро- і наноелектроніці;
- проводити аналіз зміни параметрів і властивостей приладів на основі структур метал-окис-напівпровідник і елементів ІС в залежності від режимів роботи.
Required prior and related subjects:
- пререквізит: Твердотiльна електронiка
- кореквізити: -
10. Зміст модуля:
Summary of the subject:
Квантово-розмірні ефекти в твердотільних приладах. Рiзновидностi транзисторних структур інтегральних схем. Особливостi МОН-транзисторiв з малими геометричними розмiрами. Польові транзистори з резонансним тунелюванням. Електронні прилади на наноструктурах.
Recommended Books:
• Дружинiн А.О. Твердотільна електроніка: Фізичні основи і властивості напівпровідникових приладів: Навчальний посібник..- Львiв: видав.; НУ ЛП, 2009..-332 с.
• Мартин-Палма Р.Дж., Агулло-Руеда Ф. Нанотехнологии для микро- и оптоэлектроники. -М.: Техносфера, 2007.-368 с.
• Герасименко Н.Н., Пархоменко Ю.Н. Кремний – материал наноэлектроники.- М.: Техносфера, 2007.-352 с.
Assessment methods and criteria:
• Поточний контроль (30%): письмові звіти з лабораторних робіт, усне опитування
• Підсумковий контроль (70 %, іспит): тестування (30%).