o know classification of semiconductor devices; 
to know basic descriptions of semiconductor devices; 
to know application of semiconductor devices domains ; 
to know principles of testing of semiconductor devices; 
to know the methods of testing of different sort ofsemiconductor devices; 
able correctly to choose a method and means of testing ofsemiconductor devices; 
able to execute testing of the set semiconductor device; 
 able to estimate the results of testing of semiconductordevices; able to use standards and other normative documents, bya certificate and  technical literature fromінформаційно- instrumentation

Bases informatively - measuring technologies
Physics
Higher mathematics
The electrical engineering is in informatively-measuringtechnologies
Programming is in informatively-measuring technologies
Analog circuit technology is in ІВТ
Digital circuit technology is in ІВТ
Working of results of measuring, tests and control

Terms and determinations.  Classification of semiconductordevices. Basic descriptions and functional possibilities ofsemiconductor devices.  Algorithms, methods and facilitiesof testing of semiconductor devices.  Methodologies ofimplementation of the automated testing of different sort ofsemiconductor devices.  Working of results of testing ofsemiconductor device and evaluation of him technicaldescriptions.

1.Васильєва Л.Д., Медведенко Б.Г., Якименко Ю.І. Напівпровідникові прилади: Підручник. – К.: ІВЦ видавництво «Політехніка», 2003. – 388 с.
2.Осадчук В.С., Осадчук О.В. О 72 Напівпровідникові діоди. Навчальний посібник — Вінниця: ВДТУ, 2002. — 162 с.
3.Осадчук B.C. Индуктивный эффект в полупроводниковых прибо- рах. – К.: Наук. думка, 1987. – 155 с.
4.Гринфилд Дж. Транзисторы и линейные ИС: Руководство по анали- зу и расчету: Пер. с англ. –М.: Мир, 1992. – 560 с.
5.Ферри Д., Эйкерс Л., Гринич Э. Электроника ультрабольших интег- ральных схем. –М.: Мир, 1991. – 327 с.
6.Алексеенко А. Г., Коломбет Е. А., Стародуб Г. И . Применение прецизион­ных аналоговых микросхем.- М.: Радио и связь, 1985. - 304 с.
7.Бегота Р., Вельган Р., Івахів О., Кушнір З., Походило Є. Системи для автоматизованого сортування варікапів // Міжнародна науково-технічна конференція “Сучасні проблеми автоматизованої розробки і виробництва радіоелектронних засобів та підготовки інженерних кадрів”, 27.02-3.03, ч.2, Львів, 1996 – С. 76.
8.Хома В.В. Улучшение характеристик измерителей составляющих иммитанса для средств параметрического контроля полупроводниковых структур: Автореф. дис… канд. техн. наук: 05.11.05 / ЛПИ. - Львов: 1989. – 17 с.

Oral interviews, reference work (30%)
Final evaluation (control test): written-oral form (70%)