![](https://old.lpnu.ua/sites/default/files/styles/illustration_wide/public/news/2019/05/24/illustrations/dsc20821t.jpg?itok=ddYDQ44G×tamp=1558682903)
16–17 травня 2019 року в Національному університеті «Львівська політехніка» відбулася ІV Міжнародна науково-практична конференція «Управління якістю в освіті та промисловості: досвід, проблеми та перспективи».
Вітаючи гостей, ректор Університету професор Юрій Бобало зазначив, що ініціатором та організатором цього наукового заходу є Інститут комп’ютерних технологій, автоматики та метрології, зокрема кафедра інформаційно-вимірювальних-технологій, якій цього року виповнюється 100 років. Значний досвід наукової, практичної та організаційної роботи колективу під керівництвом професора Богдана Стадника дав змогу кафедрі бути провідною в Україні і відомою за її межами в галузі метрології, інформаційно-вимірювальної техніки, стандартизації, сертифікації та управління якістю.
Проведення Міжнародної науково-практичної конференції дало можливість зібрати науковців із різних вишів України (з Києва, Білої Церкви, Львова, Вінниці, Харкова, Хмельницького, Сум, Житомира, Сокаля, Кривого Рогу, Дніпра, Краматорська, Дублян, Івано-Франківська, Глевахи, Полтави), а також зарубіжжя – з Боснії і Герцеговини, Болгарії, Сербії, Польщі. Українські та зарубіжні учасники (загалом 160 осіб) подали до організаційного комітету 86 тез доповідей, які видано до початку роботи конференції окремим збірником.
Окрім досвідчених фахівців з управління якістю в освіті та промисловості, до участі в конференції активно долучилися молоді науковці – аспіранти і студенти, яким також було що сказати та про що подискутувати під час роботи секцій.
![](https://old.lpnu.ua/sites/default/files/styles/pixel/public/news/2019/05/24/gallery/_dsc2082_1.jpg?itok=GJEQ-vsZ×tamp=1558682903)
![](https://old.lpnu.ua/sites/default/files/styles/pixel/public/news/2019/05/24/gallery/_dsc2084.jpg?itok=aIHuiFBR×tamp=1558682903)
![](https://old.lpnu.ua/sites/default/files/styles/pixel/public/news/2019/05/24/gallery/_dsc2091.jpg?itok=j_RfOanY×tamp=1558682903)