Ви переглядаєте архівну версію офіційного сайту НУЛП (2005-2020р.р.). Актуальна версія: https://lpnu.ua
Розширене проектування мікросистемних пристроїв
Спеціальність: Інформаційні системи та технології
Код дисципліни:
Кількість кредитів: 5
Кафедра: Системи автоматизованого проектування
Лектор: Лобур М.В., Щербовських С.В.
Семестр: 2 семестр
Форма навчання: заочна
Результати навчання:
1) Здатність використовувати знання та розуміння, що відносяться до базових областей побудови прогресивних інформаційних технологій проекту-вання мікросистем;
2) здатність розробляти математичні моделі і алгоритми для всіх видів забезпечення систем автоматизованого проектування мікросистем;
3) здатність застосовувати теоретичні та фундаментальні знання про структурне, функціонально-логічне, схемотехнічне, конструкторське та теплове проектування мікросистем;
4) здатність володіти навиками розроблення функціонального середови-ща відкритих систем, інтерфейсів прикладного програмування, прикладних програм і додатків з властивостями: розширюваності, масштабованості, здатності до інтеграції, готовності і надійності системи.
2) здатність розробляти математичні моделі і алгоритми для всіх видів забезпечення систем автоматизованого проектування мікросистем;
3) здатність застосовувати теоретичні та фундаментальні знання про структурне, функціонально-логічне, схемотехнічне, конструкторське та теплове проектування мікросистем;
4) здатність володіти навиками розроблення функціонального середови-ща відкритих систем, інтерфейсів прикладного програмування, прикладних програм і додатків з властивостями: розширюваності, масштабованості, здатності до інтеграції, готовності і надійності системи.
Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни:
1. Моделювання, аналіз і контроль мікросистем.
Короткий зміст навчальної програми:
Розрахунок температурного поля балочного елемента. Проектування сенсора потоку випромінювання балочного типу. Мікросистема сенсора теплового потоку на мембрані. Мікроболометр. Принцип дії, конструкція. Деформація консольно затисненої балки під дією зосередженої сили. Деформація двосторонньо затисненої балки під дією зосередженої сили.
Коливання консольної балочки під впливом періодичної зовнішньої сили. АЧХ і ФЧХ консольної балки. Вплив технологічних факторів на перетворювальну характеристику PCD. Особливості проектування мікрофлюідних систем.
Рекомендована література:
1. Mitcheson P. D. Mems electrostatic micro - power generator for low frequency operation / P. D.Mitcheson, P. Miao, B. H. Stark [et al.] // Solid-State Transducers (Eurosensors XVII) : 17-thEuropean Intrn. Conf. – 2004. – P. 523 – 529.
2. Huikai Xie Fabrication, Characterization and analysis of a DRIE CMOS – MEMS Gyroscope / Xie Huikai, K. Fedder. Gary // IEEE Sensors Journal. – 2003. – October, Vol. 3, № 5. – P. 622 – 631.
3. Xie H. A CMOS – MEMS lateral - axis gyroscope / H. Xie, G. K. Fedder // Microelectromechanical Systems : Proc. 14-th IEEE Int. Conf. – Interlaken, Switzerland. –2001. – P. 162–165.
2. Huikai Xie Fabrication, Characterization and analysis of a DRIE CMOS – MEMS Gyroscope / Xie Huikai, K. Fedder. Gary // IEEE Sensors Journal. – 2003. – October, Vol. 3, № 5. – P. 622 – 631.
3. Xie H. A CMOS – MEMS lateral - axis gyroscope / H. Xie, G. K. Fedder // Microelectromechanical Systems : Proc. 14-th IEEE Int. Conf. – Interlaken, Switzerland. –2001. – P. 162–165.
Методи і критерії оцінювання:
1. Контрольна робота № 1. Захід проводиться посередині семестру за результатами вивчення тем 1–4.
2. Контрольний захід № 2. Захід проводиться наприкінці семестру за результатами вивчення тем 5–8.
3. Оцінювання звітів про виконання лабораторних робіт. Захід проводиться після відроблення та оформлення звітів з усіх лабораторних робіт.
4. Екзаменаційний контроль. Захід проводиться у встановлений згідно із розкладом термін і передбачає діагностування знань теоретичного матеріалу.
2. Контрольний захід № 2. Захід проводиться наприкінці семестру за результатами вивчення тем 5–8.
3. Оцінювання звітів про виконання лабораторних робіт. Захід проводиться після відроблення та оформлення звітів з усіх лабораторних робіт.
4. Екзаменаційний контроль. Захід проводиться у встановлений згідно із розкладом термін і передбачає діагностування знань теоретичного матеріалу.