У результаті вивчення модуля студент повинен:
- знати основи теорії взаємодії синхротронного, нейтронного та рентгенівського випромінювання з речовиною,
- орієнтуватись в сучасних напрямках розвитку методів дослідження складу та структури матеріалів,
- вміти вибирати оптимальні методи дослідження кристалічної структури та структурної досконалості кристалів,
- користуватися основними комп'ютерними програмами для дослідження фазового складу та структури речовини

- пререквізит: Кристалофізика; Взаємодія електромагнітного випромінювання з матервалами мікронаноситемної техніки
- кореквізити: Матеріали та елементи лазерних медичних ситем та детекторів радіації

Синхротронне випромінювання, нейтрони та рентгенівське випромінювання: джерела, детектори, оптика; теорія взаємодії випромінювання з речовиною; особливості дослідження структури матеріалів з використанням синхротронного випромінювання та нейтронів; дослідження кристалічної структури та розподілу електронної густини; реальна структура об’ємних та тонкоплівкових матеріалів; In situ низько- та високотемпературна дифракція та дослідження структури матеріалів при підвищених тисках; методи протяжної тонкої структури рентгенівського спектру (EXAFS) та ближньої тонкої структури рентгенівського поглинання (XANES) та їх застосування для аналізу структури матерії.

• Powder Diffraction. Theory and Practice. Ed.’s: R.E. Dinnebier and S.J.L. Billinge. – Cambridge, The Royal Society of Chemistry, 2008. – 582 p.
• Проблемы современной кристаллографии. Структурные исследования кристаллов. – М.: Наука, 1996. – 489 с.
• Уманский Я., Скоков Ю., Иванов Л., Расторгуев Л. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. –М.: Металлургия, 1982. – 631 с.
• Pecharsky V.K. and Zavalij P.Y. Fundamentals of Powder Diffraction and Structural characterization of Materials. – Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003. – 713 p.

• Поточний контроль (30%): письмові звіти з лабораторних робіт
• Підсумковий контроль (70 %, екзамен): письмові відповіді та усне опитування