ХI Міжнародна науково-технічна конференція «Метрологія та вимірювальна техніка»

На конференції планується розглянути такі питання:

• відтворення та поширення одиниць New Si;
• теорія вимірювань та невизначеність результатів вимірювання;
• відтворення та передача розмірів одиниць фізичних величин;
• звірення еталонів;
• методи та методики вимірювань;
• калібрування та повірка;
• законодавча метрологія;
• інформаційно-вимірювальні системи,
• інтелектуальні вимірювання;
• міжнародне співробітництво.