Ви переглядаєте архівну версію офіційного сайту НУЛП (2005-2020р.р.). Актуальна версія: https://lpnu.ua

Програмне забезпечення для аналізу зображень поверхні металів, напівпровідників та розпізнавання об'єктів

Програмне забезпечення реалізує алгоритми обчислення ознак зображення, за якими здійснюється:

  • аналіз і класифікація поверхні матеріалів;
  • визначення дефектів виробництва чи старіння;
  • класифікація та пошук об’єктів уваги;
  • аналіз і класифікація зразків крові;
  • пошук облич у базах даних.
Основні переваги: 

прості та швидкі алгоритми;

комбінації різнотипних ознак;

можливість швидкої модифікації програмного забезпечення;

низька ціна.

Вирішує проблеми: 

неруйнівного контролю поверхні на основі фото- або відеозображень виготовлених та еталонних матеріалів; класифікації зображень поверхні матеріалів; пошуку в базі даних об'єктів, подібних до зображення – запиту, зокрема облич.

Пропонуємо: 

спільне доопрацювання розробки до промислового рівня.

Керівник наукової розробки: 
д-р техн. наук, професор Мельник Роман Андрійович
Тематика розробки: 
Інформаційні та комунікаційні технології
Сфера застосування: 
хімічна промисловість
телекомунікація
інформаційні технології
медицина
металообробна промисловість
chemical industry
telecommunications
information technologies
medicine
metal processing industry
Пропозиція: 
joint completion of the development to industrial level
спільне доопрацювання розробки до промислового рівня