- знати класифікацію напівпровідникових приладів;
- знати основні характеристики напівпровідникових приладів;
- знати сфери застосування напівпровідникових приладів;
- знати принципи тестування напівпровідникових приладів;
- знати способи тестування різного роду напівпровідникових приладів;
- вміти правильно вибрати метод та засіб тестування напівпровідникових приладів;
- вміти виконувати тестування заданого напівпровідникового приладу;
- вміти оцінювати результати тестувань напівпровідникових приладів;
- вміти користуватися стандартами та іншими нормативними документами, довідковою та технічною літературою з інформаційно- вимірювальних технологій

Основи інформаційно - вимірювальних технологій
Фізика
Вища математика
Електротехніка в інформаційно-вимірювальних технологіях
Програмування в інформаційно-вимірювальних технологіях
Аналогова схемотехніка в ІВТ
Цифрова схемотехніка в ІВТ
Опрацювання результатів вимірювань, випробувань і контролю

Терміни і визначення. Класифікація напівпровідникових приладів. Основні характеристики та функціональні можливості напівпровідникових приладів. Алгоритми, способи та засоби тестування напівпровідникових приладів. Методики виконання автоматизованого тестування різного роду напівпровідникових приладів. Опрацювання результатів тестування напівпровідникового приладу та оцінювання його технічних характеристик.

1.Васильєва Л.Д., Медведенко Б.Г., Якименко Ю.І. Напівпровідникові прилади: Підручник. – К.: ІВЦ видавництво «Політехніка», 2003. – 388 с.
2.Осадчук В.С., Осадчук О.В. О 72 Напівпровідникові діоди. Навчальний посібник — Вінниця: ВДТУ, 2002. — 162 с.
3.Осадчук B.C. Индуктивный эффект в полупроводниковых прибо- рах. – К.: Наук. думка, 1987. – 155 с.
4.Гринфилд Дж. Транзисторы и линейные ИС: Руководство по анали- зу и расчету: Пер. с англ. –М.: Мир, 1992. – 560 с.
5.Ферри Д., Эйкерс Л., Гринич Э. Электроника ультрабольших интег- ральных схем. –М.: Мир, 1991. – 327 с.
6.Алексеенко А. Г., Коломбет Е. А., Стародуб Г. И . Применение прецизион­ных аналоговых микросхем.- М.: Радио и связь, 1985. - 304 с.
7.Бегота Р., Вельган Р., Івахів О., Кушнір З., Походило Є. Системи для автоматизованого сортування варікапів // Міжнародна науково-технічна конференція “Сучасні проблеми автоматизованої розробки і виробництва радіоелектронних засобів та підготовки інженерних кадрів”, 27.02-3.03, ч.2, Львів, 1996 – С. 76.
8.Хома В.В. Улучшение характеристик измерителей составляющих иммитанса для средств параметрического контроля полупроводниковых структур: Автореф. дис… канд. техн. наук: 05.11.05 / ЛПИ. - Львов: 1989. – 17 с.

Усне опитування, контрольна робота (30%)
Підсумковий контроль (екзамен): письмово-усна форма (70%)