– знання основних методів дослідження кристалічної структури речовин;
– лабораторні навички та вміння розробляти і виконувати експериментальні дослідження, інтерпретувати дані і робити висновки відповідно до спеціалізації;
– здатність розв’язувати, уточнювати кристалічні структури речовин, систематизувати та порівнювати їх,
– здатність здійснювати пошук літератури, консультуватися і критично використовувати наукові бази даних щодо кристалічної структури матеріалів;
– розуміння необхідності самостійно вчитися протягом життя;
– уміння систематично відстежувати розвиток науки і техніки.

пререквізити: відсутні
кореквізити: відсутні

Огляд дифракційних методів дослідження структури твердого тіла. Взаємодія рентгенівського, синхротронного, нейтронного та електронного випромінювання з речовиною. Рентгеноструктурний аналіз. Особливості дослідження кристалічної структури матеріалів. Реалізація методу Рітвельда. Ідеальна та реальна структура матеріалів. Мікро- та макронапруження в твердих тілах. Розміри кристалітів (нанопорошків). Дифузне та малокутове розсіювання. Особливості дифракції синхротронного та нейтронного випромінювання при екстремальних умовах. In situ низько- та високотемпературна дифракція і дослідження структури матеріалів при підвищених тисках. Визначення параметрів термічного розширення та характеру теплових коливань атомів, параметрів стиснення та пружних характеристик матеріалів.

Базова
1. Modern diffraction methods. / Ed.’s: E.J. Mittermeijer, U. Welzel. ? Wiley-VCH, 2013. ? 528 p.
2. Innovative technological materials. Structural properties by neutron scattering, synchrotron radiation and modeling / Ed.’s: F. Rustichelli, J. J. Skrzypek. ? Springer, 2010. ? 279 p.
3. Local structure from diffraction / Ed.’s: S.J.L. Billinge, M.F. Thorpe. ? Kluwer Academic Publishers, 2002.
4. Pecharsky V. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials, second edition / V. Pecharsky, P. Zavalij. ? N. Y.: Springer, 2005. ? 713 p.
5. Powder Diffraction. Theory and Practice. / Ed.’s R.E. Dinnebier, S.J.L. Billinge. ? Cambridge: The Royal Society of Chemistry, 2008. ? 582 p.
6. Уманский Я. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия /
Я. Уманский, Ю. Скоков, Л. Иванов, Л. Расторгуев. ? М:. Металлургия, 1982. ? 631 с.
7. Вест А. Химия твердого тела. Теория и приложения. Т.1-2 / А. Вест. ? М:. Мир, 1988.

Допоміжна
1. Зиман З.З. Основи структурної кристалографії: Навч. посібник / З.З. Зиман– Х.: ХНУ імені В.Н. Каразіна, 2008. – 212 с.
2. Мачулин Ф.В. Рентгеновская диагностика структурного совершенства слабо искаженных кристаллов / Ф.В. Мачулин, В.И. Хрупа. ? К.: Наукова думка, 1995. ? 191 с.
3. Жданов Г.С. Диффракционный и резонансный структурный анализ / Г.С. Жданов,
А.С. Иллюшин, С.В. Никитина. ? М.: Наука, 1980. ? 254 с.
4. Hammond Ch., The basics of crystallography and diffraction / Ch. Hammond. – Oxford: Oxford University Press, 1997. – 249 p.
9. Інформаційні ресурси

1. http://www.xray.cz/ecm%2Dcd/soft/xray/ - Crystallographic freeware, shareware and links.
2. http://www.cryst.ehu.es/index.html - Bilbao crystallographic server.
3. http://www.ccp14.ac.uk/ - The Collaborative Computational Projects (CCPs), assist universities in developing, maintaining, promoting and distributing computer programs and computational methods.
4. http://www.pa.msu.edu/cmp/billinge-group/programs/discus/ - Diffuse program package consisting of three programs: DISCUS, PDFFIT and a specialized plotting program KUPLOT.
5. http://www.unf.edu/~michael.lufaso/spuds/index.html - Structure Prediction Diagnostic Software.
6. www.wincsd.eu/ - A Crystal Structure Determination and Crystallographic Calculation Software.
7. http://icdd.com/ - The International Centre for Diffraction Data.
8. http://www.icdd.com/resources/axasearch/search_based_on_vol.asp - Advances in X-ray Analysis. AXA Volumes 40-57, 59 including 1033 manuscripts in Adobe PDF Format.

Поточний контроль (30%): звіти з практичних робіт, усне опитування
Підсумковий контроль (70 %, іспит)