Ви переглядаєте архівну версію офіційного сайту НУЛП (2005-2020р.р.). Актуальна версія: https://lpnu.ua

Комп`ютерне моделювання пристроїв і технологій в оптоелектроніці (курсова робота)

Спеціальність: Мікро- та наносистемна техніка
Код дисципліни: 6.153.01.E.78
Кількість кредитів: 3
Кафедра: Фотоніка
Лектор: старший викладач Демкович Ігор Володимирович
Семестр: 6 семестр
Форма навчання: денна
Результати навчання:
• основи побудови алгоритмів та їх практичної реалізації в пакеті прикладних програм;
• будувати математичні моделі основних фізичних процесів і явищ в діелектричних, магнітних та надпровiдникових та інших матеріалах, які визначають їх функціональні можливості і принципи дії пристроїв в мікро-і наносистемній техніці;
• властивості основних матеріалів мікро- і електронної техніки та оптоелектроніки, способи управління їх структурою і властивостями;
• основні принципи побудови числових схем розв’язку краєвих задач;
• основи побудови лінійних та нелінійних різницевих схем для різних типів диференційних рівнянь;

Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни:
• пререквізит: вища математика
• кореквізити: лазерні технології
Короткий зміст навчальної програми:
Загальні принципи побудови математичних моделей для опису фізичних процесів і явищ в діелектричних, магнітних та надпровiдникових та інших матеріалах, які визначають їх функціональні можливості і принципи дії пристроїв в мікро-і наносистемній техніці;Теоретичні основи методу скінченних різниць і реалізації даного методу, як основи для моделювання різного класу краєвих задач. Розглядається методологія розв’язку поставленої задачі від побудови математичного аналогу, опису об’єкта досліджень, вибору граничних та початкових умов, до побудови різницевого аналогу в області дослідження, розрахунок та представлення результатів в графічному та файловому виді. Завданням вивчення дисципліни є отримання студентом практичних знань в галузі моделювання технології та приладів мікро- та наносистемній техніці.
Рекомендована література:
• Вазов В.,Форсайт Дж. Разностные методы решения дифференциальных уравнений в частных производных.-М.:ИЛ,1963.
• Владимиров В.С. Уравнения математической физики.-М.:Наука,1976,1981.
• Самарский А.А.,Николаев Е.С.Методы решения сеточных уравнений.-М.:Наука,1978.
Методи і критерії оцінювання:
• Поточний контроль (30%): письмові звіти з лабораторних робіт, усне опитування
• Підсумковий контроль (70%, диференційований залік): тестування