Ви переглядаєте архівну версію офіційного сайту НУЛП (2005-2020р.р.). Актуальна версія: https://lpnu.ua
Метрологія, стандартизація та сертифікація
Спеціальність: Мікро- та наносистемна техніка
Код дисципліни: 6.153.03.O.13
Кількість кредитів: 6
Кафедра: Фотоніка
Лектор: Д.т.н., проф. Вороняк Тарас Іванович
Семестр: 2 семестр
Форма навчання: денна
Результати навчання:
У результаті вивчення модуля студенти будуть:
• знати основні методики вимірювання електричних та неелектричних величин;
• знати методи обробки і подання результатів вимірювання;
• знати будову і принципи роботи засобів вимірювань;
• знати основні стандарти в області електроніки, автоматизації та приладобудування.
• вміти розраховувати значення фізичних величин за результатами вимірювань;
• вміти розраховувати похибки результатів прямих і непрямих вимірювань.
• знати основні методики вимірювання електричних та неелектричних величин;
• знати методи обробки і подання результатів вимірювання;
• знати будову і принципи роботи засобів вимірювань;
• знати основні стандарти в області електроніки, автоматизації та приладобудування.
• вміти розраховувати значення фізичних величин за результатами вимірювань;
• вміти розраховувати похибки результатів прямих і непрямих вимірювань.
Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни:
• математичний аналіз,
• теорія ймовірності, фізика,
• теорія електричних кіл.
• теорія ймовірності, фізика,
• теорія електричних кіл.
Короткий зміст навчальної програми:
Термінологія та стандартизація методів і засобів вимірювання. Системи одиниць фізичних величин, еталони одиниць. Похибки вимірювань. Методи обробки результатів вимірювання та оцінки їх достовірності і точності. Метрологічні характеристики засобів вимірювання, нормування метрологічних характеристик. Державний метрологічний контроль і нагляд. Прилади та пристрої для вимірювання електричних і магнітних величин. Методи і засоби вимірювання неелектричних величин. Стандартизація та сертифікація в електроніці.
Рекомендована література:
1. Дорожовець М., Мотало В., Стадник Б. та ін. Основи метрології та вимірювальної техніки. У 2-х томах. – Львів: Вид-во НУ «Львівська політехніка». – 2005. T.1 – 532 c. T.2 – 656 c.
2. Бичківський Р.В., Столярчук П.Г., Гамула П.Р. Метрологія, стандартизація, управління якістю і сертифікація: — Львів: Видавництво Національного ун-ту Львівська політехніка, 2002. – 560 с.
2. Бичківський Р.В., Столярчук П.Г., Гамула П.Р. Метрологія, стандартизація, управління якістю і сертифікація: — Львів: Видавництво Національного ун-ту Львівська політехніка, 2002. – 560 с.
Методи і критерії оцінювання:
• поточний контроль (30%): письмові звіти з лабораторних робіт, усне опитування;
• підсумковий контроль (70%): контрольний захід, екзамен (письмово-усна форма).
• підсумковий контроль (70%): контрольний захід, екзамен (письмово-усна форма).
Метрологія, стандартизація та сертифікація
Спеціальність: Мікро- та наносистемна техніка
Код дисципліни: 6.153.03.O.12
Кількість кредитів: 6
Кафедра: Напівпровідникова електроніка
Лектор:
Семестр: 2 семестр
Форма навчання: денна
Результати навчання:
Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни:
Короткий зміст навчальної програми:
Рекомендована література:
Методи і критерії оцінювання: