Ви переглядаєте архівну версію офіційного сайту НУЛП (2005-2020р.р.). Актуальна версія: https://lpnu.ua
Основи оптичної схемотехніки мехатронних засобів
Спеціальність: Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка
Код дисципліни: 6.152.02.E.96
Кількість кредитів: 5
Кафедра: Інтелектуальної мехатроніки та роботики
Лектор: доц. Вельган Р. Б.
Семестр: 5 семестр
Форма навчання: денна
Результати навчання:
знати:
основні поняття і залежності фізичної і геометричної оптики, необхідні для розрахунку і вибору компонентів оптичних систем;
теорію оптичних систем;
основні деталі цих систем.
вміти:
розрахувати параметри і вибрати об’єктив і електронний сенсор зображення;
розрахувати параметри і вибрати компоненти лазерного трианґуляційного вимірювача, оцінити його похибки;
вибрати оптичний засіб для геометричних вимірювань відповідно до застосування;
основні поняття і залежності фізичної і геометричної оптики, необхідні для розрахунку і вибору компонентів оптичних систем;
теорію оптичних систем;
основні деталі цих систем.
вміти:
розрахувати параметри і вибрати об’єктив і електронний сенсор зображення;
розрахувати параметри і вибрати компоненти лазерного трианґуляційного вимірювача, оцінити його похибки;
вибрати оптичний засіб для геометричних вимірювань відповідно до застосування;
Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни:
пререквізит: Фізика;
кореквізит: Електромеханічні та оптикомеханічні вузли мехатроніки
кореквізит: Електромеханічні та оптикомеханічні вузли мехатроніки
Короткий зміст навчальної програми:
оптична вимірювальна техніка в геометричній метрології; базові фізичні властивості; об’єктиви для систем опрацювання зображень; похибки об'єктивів; основні типи сенсорів оптичних пристроїв; лазерний трианґуляційний вимірювач; цифровий мікроскоп; системи трианґулювання зображень; мультисенсорні технології і вибір стратегії вимірювання
Рекомендована література:
Поліщук Є.С., Дорожовець М.М., Стадник Б.І., Івахів О.В., Бойко Т.Г., Ковальчик А. Засоби та методи вимірювань неелектричних величин: Підручник / За ред. Поліщука Є. С. Львів: Видавництво “Бескид Біт”, 2008.-618 с.
Introduction to Optical Microscopy, Digital Imaging, and Photomicrography Michael W. Davidson, Mortimer Abramowitz, Olympus America Inc., and The Florida State University. http://micro.magnet.fsu.edu/primer/index.html
The Imaging Source: White Papers. The Imaging Source Europe GmbH https://www.theimagingsource.com/support/documentation/
Introduction to Optical Microscopy, Digital Imaging, and Photomicrography Michael W. Davidson, Mortimer Abramowitz, Olympus America Inc., and The Florida State University. http://micro.magnet.fsu.edu/primer/index.html
The Imaging Source: White Papers. The Imaging Source Europe GmbH https://www.theimagingsource.com/support/documentation/
Методи і критерії оцінювання:
контрольні роботи (40%);
підсумковий контроль (залік): письмово-усна форма (60%)
підсумковий контроль (залік): письмово-усна форма (60%)