У результаті вивчення дисципліни студент повинен:
• ознайомитися з основними метрологічними характеристиками мехатронних засобів та методами їх визначення
• знати фактори, що спричиняють статичні і динамічні похибки мехатронних пристроїв і систем, методи зменшення цих похибок
• вміти розрізняти види та розраховувати значення похибок найпоширеніших мехатронних засобів, вибирати та застосовувати оптимальні способи їх корекції
• знати способи автоматичної корекції похибок типових мехатронних засобів та вміти їх застосовувати

– пререквізити: Основи метрології та вимірювальної техніки, ч.1, ч. 2. Конструювання та технологія виготовлення засобів вимірювань, ч.1
– кореквізити: Комп`ютерне конструювання механічних пристроїв мехатроніки. Електромеханічні та оптикомеханічні вузли мехатроніки

Похибки типових мехатронних пристроїв та особливості їхньої оцінки. Аналіз і розрахунок статичних і динамічних похибок вимірювальних перетворювачів, що застосовуються в мехатронних засобах. Методи зменшення похибок мехатронних засобів. Автоматична корекція похибок. Розрахунок мехатронних засобів на точність

• Полішко С.П., Трубенок О.Д. Точність засобів вимірювань. - К.: Вища школа, 1992.
• Обозовський С.С. Теоретичні основи інформаційно-вимірювальної техніки. - К.: НМК ВО, 1991.
• Бурдун Г.Д., Марков Б.Н. Основы метрологии. - М.: Изд-во стандартов, 1975.
• Данильченко В.П., Егощин Р.А. Метрологическое обеспечение промышленного производства. Справочник. - К.: Техника, 1982.

• Поточний контроль (100%): усне опитування (10%), письмова контрольна робота (10%), письмові тести – 45%, відкрита письмово-усна форма контролю (35%)
• Підсумковий контроль: диференційований залік